ソフトX線範囲のCCD QE
発行者:
Teledyne e2v
E2Vは、以前にいくつかの太陽観測プロジェクトに逆照射されたCCDを提供しており、その結果、ソフトX線領域のCCD QEに関する多くの重要な記事が生まれました。これらを更新するために、E2VはシンクロトロンでX線最適化されたEMCCDのテストを手配しました。
これらは、40 eVから2000 EVから少なくとも45％のQEが示されており、強化されたプロセスデバイスは基本プロセスよりもQEが大幅に高くなっています。測定値は、SDO SXIミッションから公開されたデータに類似しており、E2Vプロセスが長年にわたって安定していることを示しています。
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ラング:
ENG
タイプ：
Whitepaper 長さ：
16ページ
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